SJT 10801-1996 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理
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ID： |
5C80B0EDB01D4F18B4FADAAEB0C9BA8B |
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文件大小(MB)： |
1.02 |
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页数： |
17 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国国家标准,半导体集成接口电路磁芯,存储需驱就?测试方法的基本原理,General prittci>ies . f measuring methods of magtie tic,memory drivers for semkDnductor interface,integrated circoits,UDC 821.3.049,丒 T74:621,317,W,GB 6794-86,降为 SJ/T 10801-96,*"まF讐5定了半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器（以下简称器件）,方法的基本原理,静态特性和动态特性测试,若无特殊说明.本标准涉及的逻辑均为正逻辑ゆ,总的要求,1丒1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定的范围应符合器件详细规范的规定,セム测试期间’应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范,规定〇,1丒3测试期间,施于被测器件的电源电压谟差应在规定的+,的精度应符合器件详细规范的规定,1 %以內.施于被测器件的其他电稣,1イ被测器件与測试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件,±5除了被测器件的功能是由特性测试来证实外,在静态特性测试和动态特性测试前应进行功能,测试^,被測器件有内部存储或滞后现象时,测试前应有预置位周期Q,2管态特性涌试,2.1输入钳位电压P而,2J.!定义,输入端在抽出规定电流时的电压o,2丒1丒2测试原理图,匕k的测试原理图如图1所示.,匕CC］匕:C2,实施,1,G8,2.1.3测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a.环境温度T A I,b丒电源电压ダeer ^cc2i,C.输入端抽出电流ムK,d. 输入端施加的电压§,明输出端施加的电压〇,2,2,2,2,1.4测试程序,2,2,2,2,1.4.1,1.4.2,L4.S,1.4.4,1.4.5,1.4.6,2 “,在规定的环境温度Ta下,将被测器件接入测试系统中,电源端施加规定的电压P C C1和ダC C 2,被测输入端抽出规定的电流ムQ其余输入端施加规定的电压,输出端施加规定的电压〇,按本标准第2.1丒4.3~2.厶4.5项规定，分别测试每个卷入檻,流”输出截止态电压ア(qff>,2.1定义,在被测输入端测得0IK,输飕在施加被的电平下,使 哦”集电极输出端为截止态时的电压〇,2丒2丒2测试原理图,V (OFF駒测试原理图如图2所示.,2.2.3测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定』,a 环境温度T A I,电源电压ダCCl VCC2 ;,输入端施加的电平手,“源”输出端施加的电压,4测试程序,4J 在规定的环境温度Ta下,将被测器件接入测试系统中,4.2电源端施加规定的电压にcci和Pccz,4.8输入端施加规定的电平,2,GB ”“T丒,2.2.4,4 “海”输出端开路，“源”输出端施加趣定的电压,2丒2丒4』在“流》输出端测敏（OFF几,2.2.乐6按本标准第2“2.4.3~統%配5项规定.分别测试每个“流”输出端め,2.8输出管C*E结饱和压降匕”,2.3.1定义,输入端在施加规定的电平下,使输出管为饱和导通时集电极和发射极间的电压,2.34测试原理图,图3,2.机8测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定キ,环境温度 Tハ,b. 电源电压%CいrCC2f,d.,e,输入端施加的电平,输出端负载电流， I,输出端施加的电压,2.3丒4测试程序,2.3,4.1 在规定的环境温度Ta下,將破测器件接入测试系统中ゆ,2.342 电源端施加规定的电压片C J和^CGZ .,2.3.4.3,2>3. 44,输入端施加规定的电平,被测“源”发射极抽出（“流”集电极注入）规定的负载电流/。，其余输出端施加规定,的电压〇,2.3. 42 在被测输出管測得匕“0,2.3,4.6 按本标准第2,3.4.3-2.3.4.5项规定, 分别测试每个输出管,2.4输入电流ム,2.4.1 定义,输入端在施加规定的最大输入电压时，流入器件的电流,2.44测试原理图,ム的测试原理图如图4所示由,3,GB 679 4*"**41 .,匕,图4,2.4.3测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定:,a. 环境温度7 A,c.,d丒,e.,2.4.4,电源电压ダcci、V CC2 I,最大输入电压，Iず,输入端施加的电平キ,输出端施加的电压,测序,Z.4.4.1,2.4.4.2,2.4.4.3,2.4, 4.4,2.4.4.5,2.4. 4.6,在规定的环境温度Ta下,将被测器件接入测试系统中6,电源端施加规定的电压ダC C1和にC C2,被测输入端施加规定的最大输入电压キ其余输入端施加规定的电平,输出端施加规定的电压,在被测输入端测得んQ,按本标准第2.4.4.3 ~ 2.4.4.5项规定,分别测试每个输入端,2.5输入高电平电流ムh,2.53定义,输入端在施加规定的高电平电压时,流入器件的电流,2.5.2测试原理图,Ah的測试原理图如图5所示,C,—1,c,厶,f,を,llillL,破濁器件,图5,4,GB 6794-“,2 5.8测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细据范的规定,a.,b.,环境温度7a,电源电压ダcい、VCC21,输入高电平电压ダ［FU,2,2,2,2,2,2,2,2,2,d,e,5,5,5,5,5,5,5.,6,输入端施加的电平,输出端施加的电压.,测试程序,在规定的环境温度アa下，將被测器件接入测试系统中,电源端施加规定的电压匕X1和ダc C2 〇……
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